AFE5010 デジタルエレクトロニクス実験ボックス教育機器教育用マイクロプロセッサトレーニング機器
1 製品紹介:
デジタル電気回路学習機は、様々な信号源を提供します。前面には文字配線、裏面には部品を取り付けます。すべての信号源周波数計はCPLDチップと両面基板で構成されており、すべての部品は高品質の製品を採用しているため、機械全体の品質が向上します。部品は予備側に取り付けられているため、人為的な損傷の可能性を低減・回避できます。
製品の特徴:操作が簡単で耐久性があり、実験プロジェクトの柔軟性が高く、様々なデジタルシミュレーション実験を容易に実行できます。この製品は、高等教育機関や各種専門学校の電子技術教育に適しています。 2 システム内容
1) 電源:AC入力:220V±10%、50HZ
DC出力:±12V/200mA、5V/2A
2) 手動モノパルス電気回路2グループ:正と負のパルスを同時に出力でき、パルス振幅はTTL電気レベルです。
3)連続パルス1グループ:出力はTTL電気レベルです。
固定周波数パルス源:1Hz、1KHZ、10KHZ、100KHZ、1MHz
4)6ビット高精度デジタル周波数計、測定範囲:0~9.9999MHz、誤差<1Hz(CPLDチップ設計)
5)ロジックレベルの出力と表示。
A 8ビット独立ロジックレベルスイッチ:“0”、“1”の電気レベルを出力できます(正論理)。
B ロジック電気レベルは、8ビット赤色LEDと駆動回路で構成されています。
6)ニキシー管ディスプレイ
A LEDニキシー管で構成された4ビットBCDコードデコード表示回路。
B 1ビット8セグメントニキシー管。ピンはすべてリード線で、ニキシー管の実験に使用します。
7)21個の8コア、14コア、16コア、20コア、28コアなどの円形穴付きソケット。様々なICチップに対応可能です。 8)各抵抗値ポテンショメータ4個
9)標準サイズ抵抗-容量比30

3つの推奨実験プロジェクト
1)TTL集積論理ゲートのパラメータテストと使用
2)CMOS集積論理ゲートのテスト
3)ゲート回路の論理機能実験
4)一般的な組み合わせの論理機能コンポーネントのテスト
5)半加算器、全加算器、および論理演算実験
6)7人投票回路と血液型検出回路
7)トリガー機能テスト
8)JK、Dトリガーの論理機能と主要パラメータテスト
9)3状態出力トリガーとラッチ
10)非同期バイナリシステムカウンタの実験
11)同期バイナリシステムカウンタの実験
12)シフトレジスタ機能テスト
13)カウント、デコード、表示回路の実験
14)555集積回路とその応用
15)波形生成と単安定トリガー
16)シーケンス検出器の設計
17)手動介入信号制御装置
18)デジタル電子時計の設計
19)デジタル周波数計
20)自動車のテールライト制御実験